首页>>北京昊然伟业光电科技有限公司>>产品展示>>应力仪
双折射显微镜 EXICOR-MICROIMAGER 参考价：面议
双折射显微镜 EXICOR-MICROIMAGER为学术界和工业界的研究人员提供了评估双折射的能力。无论是生物材料还是工业材料。
双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS 参考价：面议
双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS，设计减去了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。
双折射（应力）测量系统 EXICOR-PV-Si 参考价：面议
双折射（应力）测量系统 EXICOR-PV-Si还可测量蓝宝石、碳化硅、硒锌、镉等材料。PV-Si铸锭模型坚固、通用，可容纳和测量直径达8英寸的500毫米粗锭。
各向异性测量系统2-MGEM椭圆计 参考价：面议
各向异性测量系统2-MGEM椭圆计是一个重大的突破，光学各向异性测量技术更快、更准确、收集更多的数据。
Strokes 偏振计 参考价：面议
Strokes 偏振计在光学元件表征、光学系统光束输出特性、天文学、光纤制造、光源和激光质量控制等方面有着广泛的应用。
圆二色性测量系统 参考价：面议
圆二色性测量系统使用垂直光路直接从标准孔板测量圆二色性。这样就不需要将溶液转移到试管中进行筛选，也不需要在分析过程中清洗试管
双折射（应力）测量系统 EXICOR-GEN 参考价：面议
双折射（应力）测量系统 EXICOR-GEN，液晶基板应力分布测量，大型液晶基板应力分布测量，应力测量。Hinds，ExicorGEN5， ExicorGEN6...
双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA 参考价：面议
双折射（应力）测量系统-EXICOR OIA是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。
应力双折射 参考价：面议
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds l...
应力双折射测量系统 参考价：面议
Hinds 仪器的应力双折射测量系统Exico-150AT是Exicor®双折射测量系统系列产品的工作平台。 该系统具有足够的多样性，在生产车间和研发...
应力双折射检测 参考价：面议
在硅太阳能电池板的生产过程中，硅晶体中的应力在制作过程中往往没有被检测到，我们描述了一种测量硅锭的应力双折射检测，它可以是方形的，也可以是生长的，然后被锯成硅片...
光学玻璃应力测量 参考价：面议
光学玻璃应力测量占地小-大限度地减少设备所需的工厂空间；平台设计-使可测量面积尽可能大；强大的自动化-质量阶段和硬件正常运行时间。
美国Hinds Instruments 参考价：面议
美国Hinds Instruments 的Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术，具生产价值的测量双折射的能力...
残余应力检测 参考价：面议
150AT 应力双折射系统是Hinds应力双折射测量系统家族系列产品，用于残余应力检测。该应力双折射测量系统既可作为实验室科研探索测量光学组件应力分布测量，也可...
残余应力测量 参考价：面议
该系统利用PEM调制光束的偏振状态、先进探测和解调电子来测量光学如何改变偏振状态。这就导致了一个偏振状态相对于另一个偏振状态的光延迟测量结果是90°。...
Hinds 参考价：面议
美国Hidns Instruemtns -LCD材料的超低阶双折射测量在与众多的光学材料制造商合作多年后，Hinds 仪器公司推出了Exicor 1500AT系...
4