气氛控制开尔文探针系统

RHC020- 气氛控制扫描开尔文探针

开尔文探针是一种非接触、非破坏性振动电容装置用于导电材料的功函或半导体或绝缘体材料表面的表面电势，表面功函由材料表面zui顶部的 1-3 层原子或分子决定，因而开尔文探针是一种非常灵敏的表面分析技术， KP Technology 公司目前可提供具有 1-3 meV 业界zui高分辨率的测试系统 RHC020
是控制气氛检测样品的理想解决方案， 50x50mm 样品加热器可将样品温度升至 100 ℃ ，采用*的电子和硬件系统即时监测温度和湿度变化，附加表面光伏 SPV020 及表面光电压谱 SPS030 模块，可对光敏感样品进行强度或波长可变的激发。

技术参数：
● 2mm 和 50μm 探针
● 功函分辨率 1-3meV （ 2mm 探针）， 5-10meV （ 50μm 探针，光学防震台）
● 50mmX50mm zui大扫描面积
● 318 纳米定位分辨率
● 跟踪系统自动控制样品和探针距离 ● 附加手动高度控制（ 25.4mm KP 平移）
● 过零信号检测系统抑制寄生电容
● 50mmX50mm 样品加热器
● 自动相对湿度控制至 1% （ 10-100%RH ）

选件
● 直插型探针支架： 2mm-50μm
● 自动温度控制
● 表面光伏模块 SPV020 和 SPS030