TESCAN SOLARIS 超高分辨聚焦离子束显微镜（镓离子）

新一代超高分辨聚焦离子束显微镜（镓离子）TESCAN SOLARIS 是一款镓离子源的 FIB-SEM 系统，适用于超薄 TEM 样品制备和其它具有挑战性的纳米加工任务，这些任务要求设备具有高分辨率、*进的离子光学系统和好的纳米加工能力。

TESCAN SOLARIS 的 Triglav™ 型 SEM 镜筒具有超高的分辨率，特别是在低电压下；镜筒内探测器系统具有电子信号过滤能力，为获得更好的图像衬度和表面灵敏度翻开了全新的篇章。TESCAN SOLARIS 的 Orage™ 型 FIB 镜筒保证了出色的低电压离子束分辨率和微加工性能，可以满足制备小于 20 nm 的半导体器件超薄 TEM 样品的需要。此外，高达 100 nA 的大离子束流可以对生物样品和材料进行对应位置的、大体积 FIB-SEM 逐层扫描，图像也具有出色的衬度。

TESCAN SOLARIS 使用了全新的 Essence™ 软件，软件用户界面友好，可以满足各类应用需求，可定制的软件布局以及自动化的样品制备功能，大限度地提升了操作便捷性和工作效率。

新一代超高分辨聚焦离子束显微镜（镓离子）TESCAN SOLARIS Ga FIB-SEM 突出特点：

1. 可选择性采集能量过滤后的电子信号，获得更好的表面灵敏度和衬度

2. 离子束流变化范围大，满足不同精度、体积要求的样品加工任务

3. 电压可达 500 eV，能够获得小于 20 nm 且具有*品质的超薄 TEM 样品

4. FIB-SEM 层析成像的同时，可获得 EDS 和 EBSD 数据，快速进行 3D 超微结构研究和微量分析表征

TESCAN SOLARIS Ga FIB-SEM 主要优势：

新一代 Triglav™ 镜筒中的镜筒内探测器系统经过进一步优化，信号检测效率提高了三倍以上。此外，该系统还扩展了检测能力，能够采集能量过滤后的轴向背散射电子信号，通过选择性地收集低损耗背散射电子来获得更好的衬度和表面灵敏度。

* 样品制备质量

Orage™FIB 镜筒采用*进的离子光学设计，在整个电压范围内均可以保证好的分辨率，同时还可以提供多种样品制备条件。低电压下的出色性能使得该 FIB 镜筒可以执行挑战性的纳米加工任务，它可以在低电压下完成抛光并获得小于 20 nm 且具有*品质的超薄 TEM 样品。

* 增强的表面灵敏度、衬度

新一代 Triglav™ 镜筒具有电子信号选择检测功能，这一功能可以帮助用户获得更好的表面灵敏度并能够获得不同的衬度。图像中可以体现形貌或是材料成分，也可以同时体现这两者，以便用户能够在短时间内较大限度地观察样品。

* 制备各类样品

Orage™ 镜筒能够产生高达 100 nA 的离子束流，同时保证离子束的质量。因此，无论是在低离子束流下制备精密的纳米结构，还是利用高离子束流以满足大体积蚀刻的要求，Orage™ 镜筒的多功能性都可以满足该类应用需求。

* 保证分析条件

新一代 Triglav™ 镜筒还具有自适应束斑优化功能，可以提高了大束流下的分辨率，这一特点有利于更好的进行 EDS、WDS 和 EBSD 等分析。此外，肖特基场发射电子枪能够产生高达 400 nA 的电子束流，电压也可以快速改变并保证在所有的分析应用下都能够获得良好的信号；在进行大离子束流加工时，也可针对不导电试样进行电荷中和。

* 更充分的利用离子束

快速、高效、高性能的气体注入系统（GIS）对于所有 FIB 应用都是需要的。新一代 OptiGIS™ 单支气体注入系统具备了所有的这些特性，TESCAN SOLARIS 可配备多达 6 支 OptiGIS。您也可以选择集成了 5 支同轴喷嘴的气体注入系统，实现更多样化的功能。此外，我们还可以提供不同的特殊气体和实用的平面IC去层方案。

* 快速三维分析功能

新型强化的镜筒内探测系统结合高达 100 nA 的大离子束流，可实现快速数据采集，用于 3D 超微结构研究和 3D 微量分析表征。在 FIB-SEM 层析成像过程中，能够同时获得 EDS 和 EBSD 数据，并通过专用软件进行三维重构，为生命科学或纳米材料研究者提供*的视角和结果。

* 轻松实现高精度和好的 FIB 性能

Orage™ 型 FIB 镜筒配有超稳定的高压单元和精确的压电驱动光阑变换器，可在 FIB 预设的参数上快速且高精度的重复切换。 此外，半自动的束斑优化向导允许用户轻松选择合适的束斑，优化特定应用下的 FIB 条件。