F20-UV/F20-NIR/F20-EXR Filmetrics F20 白光干涉测厚仪仪

Filmetrics F20 白光干涉膜厚测量仪

Filmetrics F20 白光干涉膜厚测量仪产品介绍：

无论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，Filmetrics F20 膜厚仪都能满足您的需要。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于模块化设计的特点，Filmetrics F20 测厚仪适用于各种应用。

Filmetrics F20 膜厚仪产品特点优势：

• 非接触测量：避免损伤薄膜，适用于脆弱或敏感材料；

• 高精度与宽量程：垂直分辨率达纳米级，可测厚度范围从1nm至3mm；

• 多场景适用性：基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。

• 测量速度快：配置完成后，数秒内即可完成测量。

Filmetrics F20 膜厚仪产品测量原理：

当入射光穿透不同物质的界面时将会有部分的光被反射，由于光的波动性导致从多个界面的反射光彼此干涉，从而使反射光的多波长光谱产生震荡的现象。从光谱的震荡频率，可以判断不同界面的距离进而得到材料的厚度（越多的震荡代表越大的厚度），同时也能得到其他的材料特性如折射率与粗糙度。

Filmetrics F20 膜厚仪产应用与膜层范例：

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光学常数、均匀性、刻蚀量等

• 薄膜种类：透明及半透明薄膜，常见如氧化物、聚合物甚至空气

• 薄膜状态：固态、液态和气态薄膜都可以测量

• 薄膜结构：单层膜、多层膜；平面、曲面

Filmetrics F20 膜厚仪产品常见工业应用：

Filmetrics F20 白光干涉膜厚测量仪测量图：