HAD-TT180显微颗粒图像粒度仪是推出的新一代颗粒图像分析设备，HAD-TT180采用最新的工业级显微图像采集系统，使样品观测更加清晰。分析软件系统能够对样品的“单体数据"、“形态参数"、“整体分布"等参数进行分析和计算，可以轻松获得样品的整体分布规律的曲线图和颗粒形态描述等丰富数据，是对各类颗粒样品进行观测和分析的专业仪器设备。配套的专业颗粒分析软件根据多年来用户的使用意见进行了更加人性化的升级和改进，由计算机自主分析出样品各种等效粒径、X、Y切线等“单体属性"、以及包括长径比、球型度在内的“形态参数"。再通过进一步计算得出此样品的整体分布情况（包含整体分布曲线等丰富数据），软件中还增加了多幅图像拼接计算的模式，成倍增加了参与分析的颗粒数量，从而有效的保证了数据的代表性。最后可将样品的数据以报告的形式输出（包含有图像范例、图表、数据列表等），非常便于测试人员对测试结果进行管理和汇报。

HAD-TT180 显微颗粒图像仪技术参数及详细配置

技术参数：

硬件参数
显微系统	物镜	4X、10X、40X、60X、100X（油）长距消色差（平场）物镜组
	目镜	1X、10X、16X 大视野摄像目镜
	载物台	手动三维机械式载物台，尺寸：185mm×140mm，移动范围：50mm×75mm，粗微同轴调焦，微动格值:2μm,带锁紧和限位装置
	光源	底部透射光源，6V 20W卤素灯,亮度可调。可选顶部金相落射式光源（带起偏振器）
总放大倍数	4倍——1600倍
辅助光源	卤素光源
粒径分析范围	1μm～2000μm
摄像系统	最高分辨率	2048×1536
	像素尺寸	3.2μm×3.2μm
	成像元件	1/1.8英寸 progress scan CMOS

产品优势

HAD-TT180显微颗粒图像仪作为专业的颗粒图像分析仪器，是专为颗粒或颗粒相关行业设计开发的，它的突出优势主要体现在以下方面：

1. 本产品不但可对样品的颗粒单体进行科学描述，还可以将颗粒的分布情况使用数据、图表等方式进行直观表现。能够独立或辅助激光粒度仪等设备更好的进行颗粒测试工作。

2.数据直观、易懂，分析结果一目了然：常见的颗粒测试仪器有激光粒度仪、沉降粒度仪等，但在进行颗粒检测的同时还可观测样品形貌的直观性优势是其他所有颗粒测试设备所不具备的，这能够使用户更全面的了解颗粒的形貌、状态、变化过程等信息。并且，对照直观的样品图片，可以帮助用户更好的理解报告中的数据含义。

3.应用广泛，性价比高：“HAD-TT180显微颗粒图像仪"既可以作为一种观测仪器，替代传统显微镜进行各种样品的观测工作，又可以计算样品的各项数据，操作直观简便，应用范围十分广泛。

说明：电子显微镜为选配，按客户要求配置

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