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老化测试
在老化测试过程中，半导体产品的电压、电流、温度等多个参数需要同时被监测，GRAPHTEC GL260 A-CN和GL860 A系列数据记录仪可以提供10个到最高200通道，能够同时记录多个参数。无论是静态电流的监测，还是工作电流的动态变化，GL-IV电流输入模块都能精准记录。
此外，GL260 A-CN和GL860 A系列数据记录仪标配了约8G闪存，使其能在满足采样速度下，能够支持长时间的数据记录。通过大容量存储，测试人员无需频繁导出数据，确保整个老化周期的连续性。长时间的数据存储还有效避免了因数据丢失而影响测试结果的风险。
通过GRAPHTEC数据记录仪，半导体制造商能够实时跟踪产品在老化过程中各项性能的变化，如电流波动、温度升高等，及时发现潜在的质量问题。这为产品的设计改进和质量控制提供了重要的数据支持，确保最终交付的产品符合高标准的质量要求。
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