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日本KETT膜厚计LZ-373使用说明书

阅读:5516          发布时间:2016-8-16
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日本KETT膜厚计LZ-373使用说明书见附件!

日本KETT膜厚计LZ-373的技术参数:

LZ-373 电磁 / 高频涡流两用式

测定方式

电磁式

高频涡流式

测定对象

磁性金属基体上非磁性涂镀层

非磁性金属基体上绝缘层

测定范围

0-2500um

0-1200um

测定精度

<50um ±1um           50um-1000um ±2%         1000um 以上 ±3%

<  100um      0.1um     >    100um    1um

附加功能

1. 程序选择 2. 基体修正 3. 数据删除 4. 数据记忆 5. 设定上下限 6. 数据统计(测定次数zui大值zui小值标准偏差) 7. 语言选择(中、英、日、韩) 8. 日期时间   9. 自动关机设定 10. 背景灯光选择   11. 背景灯光的时间设计 12. 单位 13. 数据输出

测头

点触式(LEP-J

点触式(LHP-J

显示方式

数字LCD显示(背光灯可自行选择开关)

数据输出

记忆数据 大约3000 电脑输出(USB或者RS-232C)或者连接打印机(RS-232C

存储通道

100通道可供选择(两用式各有50通道)

尺寸重量

75 (W)×145(D)×31(H)mm  0.34kg

标准配件

基体 标准片 4节咸性电池 测头 皮套(41.5V咸性电池)

可选配置

数据管理软件( LDL-02 )数据管理软件( McWAVE 系列)不同厚度的标准片支架 LW-990 打印机 VZ-330 打印机连线及电脑连线 RS-232C USB 的转换线

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