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当前位置：北京派迪威仪器有限公司>>技术文章>>精品视频一区二区三区 显微镜的种类有哪些？
显微镜的类型有许多。最常见的（和第一个被发明的）是光学显微镜，主要的显微镜类型包括电子显微镜、扫描探针显微镜等。其他尚有像紫外线显微镜、X光显微镜、场离子显微镜等，仅用于较专门需要而开发的，少量生产的特种用途显微镜。
光学显微镜
利用透镜放大物像送到眼睛或成像仪器，分辨率大约为一微米，可以看到细胞大小的物品。一般来说显微镜大都是指光学显微镜，光学显微镜依设计的不同，又可分为正立显微镜、倒立显微镜（又称倒置显微镜）和解剖显微镜（又称实体显微镜或立体显微镜）；又有偏光显微镜：又称为岩石显微镜、矿物显微镜或金属显微镜，用以观察岩石、矿物及金属表面，是利用光的不同性质（偏光）而做成的；相衬显微镜：观察变形虫、草履虫等透明生物时，所使用的显微镜。它的特殊装置可以将光透过生物体所产生的偏差，改变为明暗不同；又结合光学显微镜并利用激光光作为光源，以达到特殊观察需求的有共聚焦显微镜（又译作共轭焦显微镜）。
电子显微镜
在20世纪初的一种光学显微镜显著替代被开发，利用电子而不利用光线来产生图像。于1931年，恩斯特·鲁斯卡（Ernst Ruska）开始开发第一个电子显微镜- 透射电子显微镜（TEM）。透射电子显微镜的工作原理和光学显微镜有相同的原理，但在使用光的地方用电子代替，在使用玻璃透镜的地方用电磁铁代替。使用电子而不是光线允许更高的分辨率。
紧接着透射电子显微镜的开发，是马克斯·诺尔在1935年开发的扫描电子显微镜（SEM）。
扫描探针显微镜
是机械式地用探针在样本上扫描移动以探测样本影像的显微镜。
扫描隧道显微镜
STM用来看金属表面，它是利用量子物理的穿隧效应。古典物理认为，物质不能穿过位垒，但量子物理告诉我们：物质有机会穿过位垒，而他穿过位垒的几率和位垒的宽度有关。利用一通电的针状物体，靠近金属表面，则电场使电子附近的位能出现位垒形式，此时就有机会观测到跑出金属表面的电子，再利用穿过位垒的几率和位垒的宽度有关的特性，就可以推出针到金属表面的距离，因此可"看"到金属表面。
原力电子显微镜
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，简称AFM）用来探测样本表面与探针交互作用力，推出探针到样本表面的距离，因此可“看"到非金属或金属表面。
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