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艾克赛普多通道光电器件测试解决方案

时间:2024-8-13 阅读:421
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随着光通信行业的核心组件光模块迈向800G/1.6T的时代,光模块的通道数量逐渐增加,同时,随着硅光技术的发展,器件密度也显著提高。这为光电器件或硅光芯片的测试要求,比如激光器和调制器的LIV扫描测试带来了更高的挑战,需要测试设备具备更高的通道密度、更小的体积、更快的测试速度以及更高的测量精度。


一、20路并行使用的SMU源表需要占用多少体积?

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二、PXI平台-SMU源表

PXI平台提供高精度和高通道密度的SMU源表,可以满足硅光芯片和光电器件DC测试需求。结合配套的Optoelectronic Component Test Software,实现快速的测试开发和部署,加速产品上市时间。

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三、PXI平台-其他电学与光学仪表

PXI平台同时支持丰富的光学仪器仪表,可覆盖硅光芯片的典型测项。通过进一步的集成搭建更紧凑、高效协同的光模块测试系统。

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