硅含量分析仪原理:
单波长色散X荧光法(MWD XRF)采用*的聚焦方法和单色光谱来增加X光的激发强度,比较传统波长色散X荧光法(WD XRF),有效的提高了大功率背景下的信号强度。这明显的提高了检测限和精度,并降低了对基体效应的敏感度。一个单色聚焦的初级光线激发到样品上,并从样品中释放出次级特征X荧光。次级单色光选择硫元素X射线并引导这些X光到检测器中。MWD XRF是一种直接技术,不需要任何载气和气体转换。 效应的敏感度。一个单色聚焦的初级光线激发到样品上,并从样品释放出次级特征X荧光。基于MWD XRF 单波长色散X荧光技术,Signal硅含量分析仪的zui低检测下限(LOD)可到达0.5 ppm,同时检测上限达到 3000ppm, 这种直接的测量方法不需要样品的转化和不需要高温操作。小巧、方便,被设计用于检测液体、固体中的超低总硅含量。专门检测汽油、柴油硅含量测定。
硅含量分析仪应用领域
分析碳氢化合物和生物燃料中的硅含量。
用于炼油厂实验室,输油管道中心,添加剂工厂,第三方检测中心。
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