电池和电池堆在交流阻抗测试过程中，由于状态的飘移这种物理现象会导致对交流阻抗的解析和产品的优化造成误判，使用平行阻抗测试技术和Z-HIT交流阻抗谱图重建技术会保证交流阻抗的解析的准确性，从而对产品研发提供准确的数据依靠。
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