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泰勒霍普森表面粗糙度仪DUO测量信息

阅读:147          发布时间:2025-5-12

测量原理

DUO 粗糙度仪运用接触式测量原理,配备耐磨的金刚石测针部件与精密的机动驱动装置。仪器运行时,测针在电机驱动下,以稳定速度于被测物体表面移动,以此确保行进正确的水平距离。当测针划过表面波峰与波谷时,高感应度的压电传感器能够敏锐捕捉测针的垂直移动,并将机械移动转化为电子信号。这些电子信号经数字化处理后,被传送至微处理器,运用标准化算法即时计算出表面粗糙度参数。该测量方式不仅保障了测量的准确性,其坚固耐磨的金刚石测针与压电传感器组合,还确保了测量结果具备较高可靠性,能适应多种复杂测量场景。

DUO 粗糙度仪功能较为全面,只需轻松按下一键,就能快速测量多个关键的表面粗糙度参数,如 Ra(轮廓算术平均偏差)、Rz(微观不平度十点高度)、Rp(轮廓最大峰高)、Rv(轮廓最大谷深)以及 Rt(轮廓最大高度)等。这些参数会清晰地显示在仪器配备的 2.4 英寸直观 LCD 彩色屏幕上,屏幕显示亮度较高,即便在不同光线环境下,使用者也能清楚读取测量数据,为现场测量工作带来极大便利。


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