工作原理

当测厚仪的探测头放置在被测覆层表面时，探测头中的磁场产生磁感应，磁感应穿透覆层并进入基材。由于被覆层的磁导率与基材的磁导率不同，会产生不同的磁感应。

测厚仪通过探测头检测到的磁感应信号，经过信号处理和分析后，计算出覆层的厚度。

特点

测量精度高：采用可靠的传感器和信号处理技术，能满足对覆层厚度精度要求较高的应用场景，如 FMP10 的 FGA1.3 探头在 0-50μm 范围内测量精度可达 0.25μm。

功能多样：可测量各种类型的覆层，包括金属涂层、漆膜、镀层等。还具备多种测量模式，如连续测量模式、矩阵测量模式、区域测量模式、自动测量模式等。

操作简便：仪器操作界面友好，开机后即可测量 / 插入探头即可测量，通过简单的零位修正就能适应底材形状，校准也较为简便，使用一到两片箔片即可。

数据管理便捷：具有数据记录和分析功能，可以记录测量数据并进行数据分析。配备 USB 接口，可以连接计算机，部分型号如 FMP30-40 还可以连接打印机，搭配专用软件可生成图文报告，满足质量追溯与合规性要求。

非破坏性测量：采用无接触式测量方式，对被测材料不会产生任何破坏，保证了被测材料的完整性和安全性。