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笃挚仪器（上海）有限公司
主营产品： 美能达色差计,尼克斯测厚仪,三维扫描仪,byk光泽度仪,api激光干涉仪,涂镀层测厚仪,防夹力测试仪 |
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2025-4-22 阅读(189)
x 射线荧光镀层测厚仪德国菲希尔 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237，也称为 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪，采用手动或自动方式，可对微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层进行测量和分析。
菲希尔X射线测厚仪FISCHER X-RAY XDLM237典型应用领域
测量大规模生产的电镀零部件
测量微小区域上的薄镀层
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
全自动测量，如测量印刷线路板
设计理念
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM237 设计为界面友好的台式测量仪器系列，具备以下特性：
工作台与升降系统：配备马达驱动的 X/Y 工作台，保护门开启时，工作台自动移至样品放置位置；拥有马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。
定位辅助：高分辨率的彩色视频摄像头便于定位测量位置，配备的激光点可辅助定位并快速对准测量位置。
样品适应性：测量箱底部的开槽专为面积大且形状扁平的样品设计，能测量比测量箱更长、更宽的样品，例如大型的印制电路板。
样品摆放与测量调整：带有放大功能和十字线的集成视频显微镜，简化样品摆放，同时允许测量点的调整。
