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压电探针台(HO-PZPSM-T01C)
阅读:155 发布时间:2024-11-11
1. 压电探测站主体框架(1 个)
压电探针台的主体框架用于安装压电衰减器支架和显微机械手、三目显微镜、显微机械手和底板。底板有足够的面积,可同时容纳至少四个微型机械手。底板和真空吸盘/热吸盘的布置便于探针针尖落在真空吸盘/热吸盘上的样品上。底板与带磁性底座的微机械手兼容。主体框架允许真空吸盘/热吸盘平台在 X-YZ 方向自由移动。底座结构坚固,带有 M6 锥孔,可在桌面上操作。
2. 卡盘
卡盘有一个 X-YZ 平移平台,XYZ 行程为 50 mm x 50 mm x 10 mm。卡盘与底座电气和热隔离。卡盘的漏电流不超过 100 pA。本产品提供两种卡盘,一种是真空卡盘,另一种是热卡盘。
a.
真空吸盘(1 个)
真空吸盘直径 100 毫米,表面镀金。真空吸盘可通过真空泵将样品牢牢固定在吸盘上。
b.
热卡盘(1 个)
温度范围:室温至 300°C,分辨率 ≤ ±1°C。
直径:100 毫米
热卡盘表面镀金。提供带数字显示的数字温度控制器,以及所有必要的电缆和附件。
热卡盘可在设定点保持温度 ~ 6 小时,温度稳定性 ≤ ±1°C。
3. 带微型机械手的压电衰减器支架(1 个)
微机械手的 XYZ 行程为 10 × 10 × 10 毫米,分辨率为 10 微米。此外,微机械手应能用螺钉拧紧机械固定在压板上。由绝缘材料(Peek)制成的刚性绝缘杆通过 M6 螺纹孔与衰减器相连。
系统提供两种类型的硬质绝缘杆(Peek 制)。
a) 在类型 1 中,硬质绝缘杆(Peek 制成)的一端有螺纹,适合与衰减器的 M6 插槽(10 毫米深)连接。绝缘杆的另一端有一个插槽,用于使用金属螺钉和适当的电线固定带弹簧的镀金 pogo 接头,以便与 SMU 进行电气连接。系统可提供直径为 1 毫米(10 个)、1.5 毫米(10 个)和 2 毫米(10 个)的圆形扁平 Pogo 吸头。系统还提供 10 根 Peek 材质的绝缘杆。
b) 在类型 2 中,绝缘杆(由 Peek 制成)是弹簧加载的,弹簧加载的刚性绝缘杆(由 Peek 制成)的一端有螺纹,适合与衰减器的 M6 插槽(深度为 10 毫米)连接。但是,绝缘杆的另一端具有不同直径的圆形平面和抛光表面,直径分别为 1 毫米(10 个)、1.5 毫米(10 个)和 2 毫米(10 个)。
4. 带摄像头的三目显微镜(1 台)
三目显微镜具有旋转和平移功能,可观察工作区域,并可轻松将探针置于样品表面。一个基于视窗的显示系统配有合适的软件,用于查看和保存样品图像。显微镜具有以下规格:
光学系统 无限校正(200 毫米管镜头)
观察方法 明视野
反射照明(同轴和成角)
照明系统 高亮度白色 LED
鼻托 旋转式,四重,带正向精确单击止动装置
观察头 Siedentopf 三目观察头,30 度倾斜,48 - 75 mm IP 调节
目镜 宽视场目镜,10 倍,FN = 20 毫米,度数可调。
手动调焦
物镜
物镜 Plano apo 5X
NA 0.18
视场角 40 毫米(目镜视场角 = 4 毫米,CCD 视场角 = 1.31 x 0.984 毫米)
目镜放大 50 倍,相机放大 5 倍
相机规格
传感器尺寸:1/2
.5 英寸彩色 CMOS
有源成像器尺寸:6
.55 毫米(高)X 4.92 毫米(宽)
最大分辨率:2048
x 1536(3 Mp)
每秒拍摄速度:10
FPS(全分辨率
像素尺寸:3
.2 x 3.2 um
扫描类型
:
逐行扫描
快门类型 电子滚动快门
曝光时间:0
.047 毫秒 - 3000 毫秒
数据格式:8 位
RAW、24 位 BMP
灵敏度
:
> 1.0 V / Lux - sec (550 nm)
光谱范围:380
- 650 纳米
信噪比:43
dB
宽动态范围:61
dB
清晰度
:
> 850 线
曝光模式
:
自动/手动/区域
白平衡:手动
/ 一次性 / 区域 / 自动
图像格式 : raw / bmp / jpg / png
5. 带探针头的微型机械手(2 个)
微机械手用于在样品上精确移动和放置探针头,以进行电气测量。在两台微机械手中,一台为左手操作,另一台为右手操作,便于在样品上移动探针头:
1) XYZ 独立行程:10 x 10 x 10 毫米
2) 分辨率 - 10 μm;泄漏电流 - 100 pA
3) 探针针尖支架通过螺钉锁牢牢固定在微机械手上。探针头支架有一个合适的装置,可将探针头牢固地固定在上面。探针头支架与压电探针站的微动器、底板和底座电气隔离。探针头支架可进行低直流和交流(频率高达 1 MHz 或更高)电流测量。
4) 镀金钨针尖(数量 - 10 个),针尖直径:50 μm,与微机械手的报价针尖座兼容,装在盒子/包里。
5) 微机械手可将探针与光学测量仪器(如光源测量单元(SMU)和 C-V 表)进行电气连接。