波束采样器

400-700纳米高分辨率涂层

不同厚度的直径获得报价

波束采样器用于通过使用未涂布表面的菲涅耳反射来提取光束样品。波束采样器用于监测必须尽量减少传输波束扰动的应用。背面是楔形的,以避免内部条纹和防反射涂布去除幽灵图像。定制尺寸和防反射涂料可根据特殊要求提供。

规格和公差

文件/图纸

曲线图

相关产品

    物质的:    BK7或等效和熔熔二氧化硅

    表面质量:    40 - 20 ( scratch-dig )

    尺寸公差:    +0.00, -0.2 nm

    厚:    ± 0.2 mm

    透明孔径:    90 %

    表面平坦度:    λ / 4 @ 632.8 nm

    Reflectance, R 平均值:    5% @ 45°

    楔形物:    30+10弧分

    覆盖的:    正面:-无涂层

    Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm

型号编号直径(毫米)厚度(毫米)物质的Price ($)

HO-BS-N-12.512.53BK7或相当的29.00

HO-BS-F-12.512.53二氧化硅42.00

HO-BS-N-25255BK7或相当的49.00

HO-BS-F-25255二氧化硅84.00

HO-BS-N-50508BK7或相当的80.00

HO-BS-F-50508二氧化硅187.00

400-700纳米高分辨率涂层

不同厚度的直径获得报价

波束采样器用于通过使用未涂布表面的菲涅耳反射来提取光束样品。波束采样器用于监测必须尽量减少传输波束扰动的应用。背面是楔形的,以避免内部条纹和防反射涂布去除幽灵图像。定制尺寸和防反射涂料可根据特殊要求提供。

规格和公差

文件/图纸

曲线图

相关产品

    物质的:    BK7或等效和熔熔二氧化硅

    表面质量:    40 - 20 ( scratch-dig )

    尺寸公差:    +0.00, -0.2 nm

    厚:    ± 0.2 mm

    透明孔径:    90 %

    表面平坦度:    λ / 4 @ 632.8 nm

    Reflectance, R 平均值:    5% @ 45°

    楔形物:    30+10弧分

    覆盖的:    正面:-无涂层

    Back surface :- anti-reflection @ 400 - 700nm

型号编号直径(毫米)厚度(毫米)物质的Price ($)

HO-BS-N-12.512.53BK7或相当的29.00

HO-BS-F-12.512.53二氧化硅42.00

HO-BS-N-25255BK7或相当的49.00

HO-BS-F-25255二氧化硅84.00

HO-BS-N-50508BK7或相当的80.00

HO-BS-F-50508二氧化硅187.00