HOLMARC MOKE LB215 是一种易于使用的基于磁光克尔效应（MOKE）激光的系统，它提供了一种获取不同磁场和温度下磁矩变化的便捷方法

。测量使用 408nm、532nm 和 650nm 二极管激光器。

该仪器采用了锁相放大器技术，并使用光学调制器进行调制。样品安装在磁体中心，表面与磁场平行或垂直。提供的高磁场、可变间隙偶极电磁铁

允许用户以纵向或垂直的几何形状施加大磁场（10 毫米极间隙时约 20,000 高斯），以研究硬磁材料。HOLMARC MOKE LB215 随附 ORMS 软

件。它可以快速准确地管理数据收集和数据处理。

磁光克尔效应是一种研究磁化特性的成熟技术。该效应基于这样一个事实：当光从磁性材料中反射出来时，光的偏振面会发生旋转。MOKE 的物

理起源是磁性圆二色性效应：磁性材料中的交换和自旋轨道耦合导致左旋和右旋偏振光的吸收光谱不同。通过测量反射光束的偏振变化（通常称为

克尔角θKerr）可以了解样品的磁化状态。

                                                                                         规格

  激光波长：405nm、532nm、650nm 二极管激光器

    光学旋转灵敏度：0.009 度（克尔旋转角）

    光学旋转分辨率：0.018 度

    椭圆度测量：± 0.01 度

    光学旋转测量范围：± 90 度

    光斑尺寸：0.1 毫米（可变）

    电磁单元：PC 控制恒流操作

    最大磁场：20,000 高斯 @ 10 毫米极间隙

    最小磁场 磁场检测：1 高斯

    磁场精确度：± 0.05

    冷却器：5 ~ 25°C 冷却水（用于冷却电磁铁）

    磁场检测：基于霍尔探针（基于 PC 的磁场测量）

    磁场反馈 ：    霍尔元件

    样品室选项：高温/低温样品架

    样品移动平台：X、Y 和 Z 轴带角度倾斜的定位器

    行程：X、Y 和 Z 轴（±5 毫米），定位分辨率为 10 微米

    软件 ：    Spectra ORMS 软件

MOKE 对于研究铁磁和铁磁性薄膜和材料尤为重要。在这种非破坏性的表面敏感技术中，偏振调制激光光在扫描磁场的作用下从磁性表面反射出来。由于光是一种电磁场，因此样品的磁场与光相互作用，导致光的偏振和椭圆度发生非常微小的变化也就不足为奇了。我们通过近似交叉的偏振器测量光的强度变化，记录强度与外加磁场的函数关系。

利用该仪器可以研究极光、纵光和横光磁光克尔效应。纵向和极性配置被用作薄膜磁性表征的常规工具。专用的室温装置可快速获取面内磁滞回线。这些磁滞回线提供了薄膜中磁性各向同性的信息，在多层情况下还提供了层间耦合的信息。在纵向克尔效应中，测量可获得样品表面平面磁矩排列的定性信息。使用此装置还可以测量垂直于样品表面的磁化分量。