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菲希尔、X射线测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDL210信息

时间:2025/4/11阅读:261
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FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 菲希尔X射线测厚仪是一款应用广泛的能量色散型 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析,同时还能全自动检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 菲希尔X射线测厚仪特别适用于客户进行质量控制、进料检验和生产流程监控。

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 240 菲希尔X射线测厚仪典型的应用领域有:

• 测量大规模生产的电镀部件

• 测量超薄镀层,例如:装饰铬

• 测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

• 全自动测量,如测量印刷线路板

• 分析电镀溶液


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