无锡骏展仪器有限责任公司
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菲希尔涂层测厚仪FMP40接触式信息2025/5/21
DualScopeFMP40巧妙融合磁感应与电涡流两种测量技术,以应对不同材质的测量需求。当测量铁磁材料(如钢铁)表面涂层时,仪器采用磁感应法。探头内激励电流生成低频磁场,该磁场穿透涂层与铁磁基材相互...
DaulScope DMP40双功能菲希尔测厚仪信息2025/5/21
德国Fischer涂镀层测厚仪DaulScopeDMP40双功能对化工设备、管道的防腐涂层及金属管道壁厚进行实时监测,及时发现涂层损耗与管道壁厚变化。有效预防设备故障,保障设备在复杂恶劣的化学环境中稳...
菲希尔MPO涂层测厚仪得力能手信息2025/5/21
采用袖珍式设计,整体重量仅60g(不含电池),外形尺寸为64mm×30mm×85mm,小巧轻便,方便用户携带至各种工作现场。无论是在实验室环境,还是工业生产线上,都能轻松操作,随时随地进行涂层厚度测量...
德国菲希尔MPO涂镀层测厚仪检测膜厚信息2025/5/21
菲希尔涂层测厚仪MPO信息MPO涂层测厚仪如同工业检测领域的“智能工匠”,凭借磁感应与电涡流双重测量技术的深度融合,实现全场景精准检测。面对铁基材料时,仪器内部的磁芯迅速构建专属磁场,当磁场穿透涂层与...
泰勒霍普森Surtronic S-116型号大屏幕粗糙度仪信息2025/5/19
一、仪器定位与核心优势SurtronicS-116是泰勒霍普森SurtronicS100系列的基础款便携式表面粗糙度测量仪,专为车间、工业现场及检测室设计。其核心优势在于:耐用性:抗冲击橡胶化机身与不...
菲希尔涂层测厚仪DUALSCOPE MP0产品简介2025/5/19
DUALSCOPEMPO涂层测厚仪由德国菲希尔匠心打造,它创新性地融合了磁性测厚仪(P-MP0D)与涡流测厚仪(I-MP0D)的双重功能,作为D-MP0D型仪器的升级之作,以性能满足多样化测量需求。广...
FISCHER X射线测厚仪XDL230产品信息2025/5/16
菲希尔X射线测厚仪FISCHERXDL230一、核心测量技术测量原理:运用X射线荧光光谱法,实现对镀层厚度的精准测量。测量方式:无损检测,具备自动聚焦功能,保障样品完整性与测量准确性。元素测量范围:涵...
弗劳恩霍夫P3123感应淬火层测厚仪信息2025/5/16
感应淬火层测厚仪背景:弗劳恩霍夫感应淬火层弗劳恩霍夫感应淬火层测厚仪P3123表面淬火硬化可以提高受动态应力部件的耐磨性及疲劳强度等,常见应用领域:█表面硬化优化█通过压缩残余应力提高改善耐疲劳性能和...
泰勒霍普森粗糙度仪S128TAYLOR HOBSON粗糙度仪2025/5/16
Surtornic系列仪器中的全新一员,拥有4.3寸的触摸全屏,电池持久力可保证2000次测量。屏幕图形功能和USB链接功能保证了全新的S-128系列仪器功能的zui大化实现。S系列有两种型号可供选择...
粗糙度仪SURTRONIC S116便携式仪器信息2025/5/15
泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONICS116技术参数泰勒霍普森粗糙度仪SURTRONICS116数据显示:显示屏每页显示7个测试结果,屏幕上可显示轮廓图(剖面图)可以打印测试结果和图形使用Talypr...
菲希尔FISCHER DMP20测厚仪信息2025/5/15
DMP系列的便携性、功能使其具有足够的通用性,可用于广泛的应用。这些灵活的设备是接触式和非破坏性测量铁基材和有色金属基材上涂层厚度的解决方案。为此,我们有适合您需求的型号选择:ISOSCOPE、DEL...
菲希尔X射线荧光测厚仪xdlm237信息2025/5/14
菲希尔台式测厚仪,X射线荧光测量法,非接触式测厚仪。X射线荧光镀层测厚及材料分析仪,采用手动或自动方式,测量和分析微小结构的印刷线路板、电气元件及大规模生产的零部件上的镀层。FISCHERSCOPE&...
Fischer Dualscope DMP40双功能测厚仪2025/5/14
磁感应法:该测量技术严格遵循DINENISO2178国际标准,主要应用于铁、钢等磁性金属基材表面非磁性涂层的厚度检测。测量过程中,探头产生的磁场能够穿透涂层直达金属基材,由于涂层与基材的磁导率存在显著...
菲希尔DMP30电涡流测量油漆层2025/5/14
电涡流测量原理,符合DINENISO2360等国际标准。仪器通过探头线圈产生高频交变磁场,当磁场作用于非磁性金属基材(如铝、铜、锌合金等)表面时,在基材表面感应出电涡流。由于电涡流的大小与涂层厚度存在...
菲希尔DMP20双功能涂层测厚仪基本信息2025/5/14
磁感应法:遵循DINENISO2178标准,用于测量磁性金属基材(如铁、钢等)表面非磁性涂层的厚度。探头产生的磁场穿透涂层到达基材,因涂层与基材磁导率不同,产生不同程度的磁感应变化,仪器通过分析变化计...

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