到货型号：
JIMA分辨测试卡RC-05B！
4月深圳仓库到货，欢迎咨询！
客户4月初询价该产品，经过议价对比价格后，4月中已下单，并签订正式合同订货。
4月初到货深圳仓库后，仓库负责人王工对产品验收合格后办理入库，已经发往天津的客户了。
JIMA 分辨测试卡 RC-05B 具有以下性能特点1：
高分辨率支持：采用新半导体光刻技术制作，能支持 3 微米至 50 微米（3µm 至 50µm）的分辨率，对应 6 微米和 100 微米（6µm 和 100µm）之间的焦斑尺寸，可满足微焦点或纳米焦点 X 射线检测系统对高精度分辨率校准和监控的需求。
多种狭缝尺寸：狭缝尺寸包括 3、4、5、6、7、8、9、10、15、20、25、30、35、40、45 和 50 微米，共 16 种规格，可全面覆盖不同分辨率检测场景，精确测量系统在各种尺度下的分辨率表现。
特定吸收材料与布局：吸收材料为厚度大于 1.0µm 的金（Au），Slit 的数量为 3 行和 2 个空格，这种设计有助于在 X 射线检测中形成清晰的线条图案，便于观察和分析系统对不同宽度线条的分辨能力，从而准确评估系统性能。
小巧的外形尺寸：通常芯片尺寸较小，例如可能采用 2x2mm、8x8mm 硅基等不同布局方式，方便在各种 X 射线检测设备中灵活放置和使用，适应不同的检测空间和光路设置。
该测试卡主要用于校准和监控 X 射线检测系统的分辨率，通过将其放置在 X 射线管前，利用操纵器移动测试图，观察不同狭缝尺寸的线条图案，只要线条清晰可见，就可继续测试，进而近似计算焦点大小（小分辨率乘以 2），以确保 X 射线系统在微米和纳米焦点下能获得高质量的图像结果
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