Otsuka大塚分光干涉式晶圆膜厚仪即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破坏性光学...

Otsuka大塚 分光干涉式晶圆膜厚仪省空間即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色 非接触式、非破...

HITACHI日立紫外分光光度计易操作UH5200不仅配有高分辨率彩色LCD大屏和便捷小键盘，还可以通过USB接口轻松连接外部设备（读卡器、键盘），实现样品信息...

HITACHI日立分光光度计易操作U-3900/3900H分光光度计采用Seya-Namioka单色仪，安装了像差校正凹面光栅。同时拥有光束的聚焦和色散功能，光...

HITACHI日立紫外分光光度计易使用UH5700采用连续可变狭缝，在近红外波长区测定低光量时，自动加宽狭缝；测定高光量时，自动减小狭缝宽度。支持低噪音测定超大...

HITACHI日立双光束稳定光学光度计易使用U-3900/3900H分光光度计采用Seya-Namioka单色仪，安装了像差校正凹面光栅。同时拥有光束的聚焦和色...

HITACHI日立荧光分光光度计易维护F-2700荧光分光光度计在设计上充分考虑了用户的操作体验。操作键盘设计简洁直观，类似于手机按键，用户无需专业培训即可快速...

HITACHI日立荧光分光光度计灵敏度高F-7100是在前代机型F-7000的基础上更新升级，基本性能得到了进一步提升。灵敏度（S/N）是选择荧光分光光度计的重...

HITACHI日立分光光度计易操作采用优良的技术和优质的材料制造而成，F-2700在长时间运行过程中能够保持稳定的性能表现，减少了因仪器故障而导致的实验中断。

HITACHI日立分光光度计易使用F-7000能够处理浓度范围高达6个数量级的数据，生成校正曲线，无需对未知样品进行任何预处理即可进行定量。此外，增强的时间扫描...

HITACHI日立荧光分光光度计易使用F-7100采用全新氙灯，并改良了灯电源，使得光源亮度提升，并有效延长了氙灯的使用寿命。延长灯泡更换周期可降低耗材成本，减...

Otsuka大塚 多通道光谱仪配件丰富MCPD-6800是用于分光检测与分析的基本系统。可以瞬间进行分光光谱的测量,也可以通过自由组合的光学系和丰富的配件，搭建...

HITACHI日立荧光分光光度计高精度传统荧光光谱仪很难实现化学反应监控，但F-7100超高速的扫描速度可使这种测量轻松进行。在本例中，荧光光谱测量追踪2秒时间...

HITACHI日立荧光分光光度计高精度F-4700采用了全新的长寿命氙灯，并通过改良灯电源，使得光源亮度提升，同时有效延长了氙灯的使用寿命至1000小时。这一改...

Otsuka大塚显微分光膜厚仪 高精度测量 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏...

Otsuka大塚显微分光膜厚仪操作简单非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测...

Otsuka大塚显微分光膜厚仪高精度 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测...

Otsuka大塚显微分光膜厚仪 非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚...

HITACHI日立荧光分光光度计多功能性F-7000能够处理浓度范围高达6个数量级的数据，生成校正曲线，无需对未知样品进行任何预处理即可进行定量。此外，增强的时...

HITACHI日立荧光分光光度计广泛应用F-7000能够处理浓度范围高达6个数量级的数据，生成校正曲线，无需对未知样品进行任何预处理即可进行定量。此外，增强的时...