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紫外可见分光光度计杂散如何调试?

时间:2019-12-7 阅读:861
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有的紫外可见分光光度计只测试220nm处的杂散光,不测试340nm处的杂散光,这样是不正确的,需测试220nm处杂散光是因为:

①根据量子光学理论,波长是能量的倒数,波长短能量大,容易产生杂散光,而220nm处属于短波部分;

②根据仪器学理论中的电光源理论,氘灯在220nm处能量很小,即信号很小,容易显现杂散光;

③根据仪器学理论中的光电发射理论,光电倍增管在220nm处的光谱响应(灵敏度)低,容易显现杂散光。而测试340nm处杂散光的原因是*不同的,因为340nm处一般是氘灯换钨灯和仪器调换滤光片的地方,此时*容易产生杂散光。所以,对于紫外可见分光光度计来讲,应该测试220nm和340nm两处的杂散光。 

1、首先将参比液注入配对石英石吸收池,分别放置在参比池座和试样池座内。再测定波段扫描基线并使之平滑。

2、将减光片插入试样光路的滤光片槽内,其读数即为减光片的衰减值K,然后将减光片插入参比光路的滤光片座内。

3、将石英吸收池中的蒸馏水依次换成上述截止滤光液,插入试样试样池座中,在相应的波段内扫描、打印;在记录纸的作标上量取测定波长处的透光度,乘以衰减值K,即得各测定波长处的杂散光值。

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