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Zeta电位分析仪是一种基于电泳和光散射原理的高精度测量仪器，主要用于测量纳米颗粒的Zeta电位。Zeta电位是连续相与附着在分散粒子上的流体稳定层之间的电势差，是表征粒子表面电荷状态的一个重要参数。
该分析仪的测量原理主要依赖于电泳迁移率的测定。当电场施加于电解质溶液中的悬浮带电粒子时，这些粒子会受到电场力的作用而向相反电荷的电极移动。同时，作用于粒子的粘性力会倾向于对抗这种运动。当这两种力达到平衡时，粒子将以恒定的速度运动，这个速度被称为电泳迁移率。
通过测量电泳迁移率，并结合介电常数、溶液粘度等物理参数，可以利用Henry方程推导出粒子的Zeta电位。这一过程的关键在于准确测量电泳迁移率，这通常通过电泳光散射法来实现。
在电泳光散射法中，激光被用来照射纳米颗粒，颗粒在电场作用下的电泳运动会导致光的散射角度和强度发生变化。通过测量这些变化，可以计算出颗粒的电泳迁移率，进而得到Zeta电位。
此外，Zeta电位分析仪还可以结合动态光散射技术来测量纳米颗粒的粒度分布。这一功能使得分析仪能够同时提供关于颗粒大小和表面电荷性质的信息，为科研和工业应用提供了更为全面的数据支持。
综上所述，Zeta电位分析仪的测量原理基于电泳迁移率的测定，通过电泳光散射法和动态光散射技术的结合，实现了对纳米颗粒Zeta电位和粒度分布的高精度测量。
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