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碳化硅电阻率方阻测试仪

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公司成立于 2021 年,是一家注册在 苏州 、具备 技术的 非接触式 半导体 检测分析 设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体, 主要攻克国外垄断技术,替代进口产品,使半导体材料测试设备国产化。

主要产品 :非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪、方阻测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法高低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、涡流法电阻率探头和 PN探头测试仪、迁移率(霍尔)测试仪、少子寿命测试仪,晶圆、硅片厚度测试仪、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV。 碳化硅、硅片、氮化镓、 衬底和外延厂商提供测试和解决方案

凭借*的技术和丰富的 产品设计经验 申请各项知识产权 20余项, 已发展成为中国大陆少数具有一定国际竞争力的半导体专用设备提供商,产品得到众多国内外主流半导体厂商的认可,并取得良好的市场口碑。





晶圆电阻率测试仪,硅片电阻率测试仪,涡流法低电阻率分析仪,晶锭电阻率分析仪,迁移率测试仪,少子寿命测试仪

价格区间 面议 应用领域 电子/电池,电气,综合
自动化度 半自动

碳化硅电阻率方阻测试仪介绍:

1、电阻率ρ不仅和导体的材料有关,还和导体的温度有关。在温度变化不大的范围内:几乎所有金属的电阻率随温度作线性变化,即ρ=ρ0(1+at)。式中t是摄氏温度,ρ0是O℃时的电阻率,a是电阻率温度系数。

2、由于电阻率随温度改变而改变,所以对于某些电器的电阻,必须说明它们所处的物理状态。如一个220 V -100 W电灯灯丝的电阻,通电时是484欧姆,未通电时只有40欧姆左右。

3、电阻率和电阻是两个不同的概念。电阻率是反映物质对电流阻碍作用的属性,电阻是反映物体对电流阻碍作用的属性。

电阻率(resistivity)是用来表示各种物质电阻特性的物理量。

在温度一定的情况下,有公式R=ρl/S,其中ρ就是电阻率,l为材料的长度,S为面积。可以看出,材料的电阻大小与材料的长度成正比,而与其截面积成反比。

由上式可知电阻率的定义式:ρ=RS/l,国际单位制中,电阻率的单位是欧姆·米(Ω·m),常用单位是欧姆·毫米、欧姆·米。

了解更多碳化硅电阻率方阻测试仪相关信息,请联系我们。



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