请选择参数!


-
WD4000系列晶圆膜厚测量设备可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷
-
膜厚测量仪本设备利用反射干涉的原理进行无损测量,测量吸收或者透
-
WD4000系列晶圆几何尺寸量测设备通过非接触测量,将晶圆的三维形貌
-
本设备利用反射干涉的原理进行无损测量,测量吸收或者透明衬底上薄
-
WD4000系列晶圆微观几何轮廓测量系统通过非接触测量,将晶圆的三维
-
WD4000晶圆翘曲度几何量测系统兼容不同材质不同粗糙度、可测量大翘
-
WD4000晶圆微观三维形貌测量系统自动测量Wafer厚度、表面粗糙度、
-
WD4000晶圆微纳几何三维形貌测量系统兼容不同材质不同粗糙度、可测
