布鲁克 Dektak系列台阶仪/探针式轮廓仪
| 参考价 | ￥500000- ￥1000000/件 |
- 公司名称 铂悦仪器（上海）有限公司
- 品牌 Bruker/布鲁克
- 型号
- 所在地 上海市
- 厂商性质 代理商
- 更新时间 2025/6/6 15:20:38
- 访问次数 322
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铂悦仪器自2004年成立以来，凭借与世界各大仪器品牌的战略合作关系，以及不断优化公司自身经营管理，提高服务质量，成为中国国内的仪器供应商。铂悦仪器所提供的产品均属于高科技行业，产品包括高精度的分析仪器、检测仪器和生产设备，以及配套的耗材和配件，这些产品广泛应用于工业、环境、食品、生物、地质、半导体、太阳能、医药、医疗器械、艺术考古、刑侦等各个领域并服务于各大院校、研究所、检测机构、及政府部门等。
铂悦仪器不仅拥有高品质的产品，更培养了专业的销售、应用支持和售后服务团队。本着客户至上的原则，从客户的实际需求出发，铂悦仪器为客户提供仪器销售，安装培训，应用支持，代检测服务及仪器短期租赁服务等综合解决方案，并提供持续而良好的售后服务，由此也获得了广大客户的信任与认可。
企业文化Corporate Culture： CREDIT
C- Confidence: 自信
R- Responsibility: 责任心
E- Efficiency: 效率
D- Diligence: 勤奋
I- Intelligence: 机智
T- Trust: 信任
铂悦仪器持续为您提供：仪器销售，安装培训，应用支持，代检测服务及仪器短期租赁服务。
行业涵盖：
工业、环境、食品、生物、地质、半导体、太阳能、医药、医疗器械、艺术考古、刑侦
应用范围：
材料成份分析（定性/定量）
大面积材料元素分布
材料表面/形貌分析
3D扫描--快速3D成像
CT--3D内部结构分析
太阳能IV检测
产品：
-- 直读光谱仪
-- 手持式XRF分析仪 S1 TITAN
-- 科研级手持式XRF分析仪TRACER
-- 便携式荧光光谱仪 ELIO
-- 便携台式XRF分析仪 CTX
-- 微区X射线荧光光谱仪-元素扫描M4 TORNADO
-- 岩芯分析仪
-- 台阶仪、光学轮廓仪、原子力显微镜AFM
-- 台式X射线荧光测厚仪
-- X射线透射系统/3D断层扫描系统 （CT ）
-- 3D扫描仪
-- 便携式IV曲线检测仪
岩芯分析仪，微区X射线荧光光谱仪，直读光谱仪,手持式合金分析仪;Bruker台阶仪,光学轮廓仪,摩擦磨损仪,原子力显微镜;膜厚仪，艺术与考古分析仪
| 产地类别 | 进口 | 价格区间 | 面议 |
|---|---|---|---|
| 应用领域 | 化工,生物产业,电子/电池,制药/生物制药,综合 |
BRUKER
布鲁克 Dektak系列台阶仪/探针式轮廓仪
BRUKER布鲁克 Dektak系列台阶仪/探针式轮廓仪 ，适用于纳米级表面测量、表面形貌分析等多种领域，具有超过50年的研发历程，技术成熟，性能可靠。
设备可实现 4Å （0.4nm） 的优异重复性和快速的扫描速度，为微电子技术、半导体、触摸屏、太阳能、高亮度 LED、医疗和材料科学、薄膜与涂层、生命科学应用等行业实现纳米级表面形貌测量技术提供支持。
布鲁克全新一代的台阶仪设备 - Dektak Pro
Dektak Pro™ 以其多功能，使用的便捷性和准确的精度在薄膜厚度、台阶高度、应力、表面粗糙度和晶圆翘曲测量方面广受赞许。第十一代Dektak®系统，具有4 Å重复性的优异表现，并提供200毫米平台选项，在科研以及工业领域中可以为材料的表面形貌提供各种分析。在表面测量方面，Dektak Pro是微电子技术、薄膜与涂层和生命科学应用的理想选择。
强大的性能和重复性
Dektak Pro以其强大的分辨率、稳定性、稳健性和耐用性，确保在未来数年甚至数十年内提供可靠的优质结果。新型号在Dektak平台上继承创新，提供更高的分辨率、更低的噪声和更便捷的探针更换，所有这些因素对于优化系统的重复性和准确性至关重要。
在适当的环境下，Dektak Pro甚至能够测量1纳米的台阶高度，并在1微米台阶高度标准上实现优于4 Å的重复性。
性能体现在细节之中
Dektak Pro的单拱设计有效降低了对不利环境条件（如噪声和震动）的敏感性，同时又可容纳大尺寸样品测试。新一代的智能电子技术应用更大限度地减少了温度变化和电子噪声，从而减少了高精度测量中的误差和不确定性。
低惯量传感器（LIS 3）使系统能够快速适应表面形态的突然变化，在动态测量场景中保持准确性和响应性。探头更换技术通过自对准探头夹具，消除了错位和系统重新校准的需要，轻松完成探头更换，耗时不到一分钟。
快速获取结果
Dektak Pro采用直驱扫描平台技术，这一先进的扫描平台技术大大减少了测量的时间而不影响分辨率和噪声底，从而加快了3D形貌或长轮廓扫描的结果获取速度，同时保持优异的数据质量和重复性。
Vision64®软件采用64位并行处理技术，即使面对大数据也能实现快速的数据处理。此外，自动化的多次扫描分析操作简化了重复性任务，增强了速度和便捷性。
经典可靠的台阶仪 - Dektak XT
布鲁克 DektakXT 探针式轮廓仪（台阶仪）采用了革命性的台式设计，结合成熟
的技术和设计，实现了高性能、高易用性以及高性价比的统一，从研发到质量控制方面都有更好的过程控制。
设备特点：
- 强大性能，台阶高度重现性低于4Å
- Single-arch（单拱门式）设计，提供突破性的扫描稳定性
- 升级的“智能电子器件”，提高测试精度和稳定性
- 优化的硬件配置，使数据采集时间缩短40%
- 64-bit、Vision64同步数据处理软件，使数据分析速度提高了十倍
- 直观的Vision64用户操作界面，使用更简单
- 针尖自动校准系统，让用户轻松更换针尖探针
- 广泛的探针型号
- 单传感器设计
- 确保高通量测试
探针式轮廓仪系统/台阶仪系统 - Dektak XTL
Dektak XTL 探针式轮廓仪系统（台阶仪系统）是为大型晶圆和面板制造等应用而设计的探针式轮廓仪系统，可容纳高达 350mm x 350mm 的样品，拥有高精度的扫描性能和优异的可重复性和再现性。
设备采用空气振动隔离和全封闭工作站设计，具有易用的联锁门，可用于苛刻的生产环境中。双摄像头架构，可增强空间感知能力。高自动化水平可更大限度地提高测试通量。
产品特点：
- Dektak系列台阶仪所具有的强大性能
- 单拱形架构、集成振动隔离系统和大型联锁门
- 更大且支持高精度编码 XY 样品工作台
- 双摄像头控制系统
- 方便的分析和数据采集
- N-Lite 低作用力，采用软触控技术
- 可靠的自动化设置和操作
- 增强的分析软件
- 针尖自动校准系统，让用户轻松更换针尖探针
- 广泛的探针型号
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