非接触式晶锭电阻率测试仪

公司成立于 2021 年，是一家注册在 苏州 、具备 技术的 非接触式 半导体 检测分析 设备制造商。公司集研发、设计、制造、销售于一体， 主要攻克国外垄断技术，替代进口产品，使半导体材料测试设备国产化。

主要产品 ：非接触式无损方块电阻测试仪、晶圆方阻测试仪、方阻测试仪、硅片电阻率测试仪、涡流法高低电阻率分析仪、晶锭电阻率分析仪、涡流法电阻率探头和 PN探头测试仪、迁移率（霍尔）测试仪、少子寿命测试仪，晶圆、硅片厚度测试仪、表面光电压仪JPV\SPV、汞CV、ECV。 为 碳化硅、硅片、氮化镓、 衬底和外延厂商提供测试和解决方案 。

凭借*的技术和丰富的 产品设计经验 ， 申请各项知识产权 20余项， 已发展成为中国大陆少数具有一定国际竞争力的半导体专用设备提供商，产品得到众多国内外主流半导体厂商的认可，并取得良好的市场口碑。