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晶圆缺陷检测

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  • 化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：CI8
    LODAS™ – CI8是列真株式会社推出的一款化合物半导体SiC、GaN晶圆检查装置。
    型号： CI8 品牌：LAZIN所在地：上海市 对比
    化合物半导体SiC、GaN检查装置
    2024/11/9 14:57:434559

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    参考价： 面议 型号：LODAS™ – LI系列
    LODAS™ – LI系列是列真株式会社推出的一款FPD Photomask缺陷检查装置。
    型号： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 对比
    FPD Photomask缺陷检查装置
    2024/11/9 15:02:361998

  • GlassWafe缺陷检查装置 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：LODAS™ – BI12
    LODAS™ – BI12是列真株式会社推出的一款GlassWafe缺陷检查装置。
    型号： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 对比
    GlassWafe缺陷检查装置
    2024/11/9 15:00:061808

  • Photomask Blanks缺陷检查装置 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：LODAS™ – BI8
    LODAS™ – BI8是列真株式会社推出的一款Photomask Blanks缺陷检查装置。
    型号： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 对比
    Photomask Blanks缺陷检查装置
    2024/11/9 14:56:082155

  • Photomask Blanks缺陷检查装置 参考价： 面议

    参考价： 面议 型号：LODAS™ – AI50/100
    LODAS™ – AI50/100是列真株式会社推出的一款Photomask Blanks缺陷检查装置。
    型号： LODAS&tra... 品牌：LAZIN所在地：上海市 对比
    Photomask Blanks缺陷检查装置
    2024/11/9 14:54:302288
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