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K系列 博曼BOWMAN高精度镀层测量仪K 系列是客户测量各种样品的理想之选，在高度不超过9英寸（228 mm）的工件上具有优于同类产品的12英寸（304 mm...
奥林巴斯 测厚仪 Magna-Mike 8600Magna-Mike 8600是一款利用简单的磁法对非铁性材料进行可靠且重复性很高的厚度测量的便携式测厚仪。Ma...
布鲁克 X射线镀层测厚仪M1 ORA是适用于珠宝行业的台式X射线镀层测厚仪，结构紧凑、占用空间小。
镀层测厚仪M1M1 MISTRAL是采用X射线荧光技术的光谱仪，可对大件样品和镀层样品进行准确的分析。分析的元素范围：原子序数22号（钛）-92号（铀）中的元素...
大尺寸镀层测厚仪M2 BLIZZARD采用开槽设计，适用于扁平形状和尺寸过大的样品。
布鲁克电荷灵敏前置放大器 CUBE布鲁克电荷灵敏前置放大器 CUBE（立方）是一种以脉冲复位模式运行的单片电荷灵敏式前置放大器，借助外部电阻器，也可以以连续复位...
DANTE数字脉冲处理器DANTE数字脉冲处理器伽马射线探测器信号，数字脉冲处理器，前置放大器芯片，X射线信号，前置放大器芯片，SDD探测器，同步辐射光源。
薄膜测厚仪MProbe系列反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、快速的光学薄膜厚度测量技术。
反射膜厚仪MProbe VisMProbe Vis薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
反射膜厚仪MProbe UVVisSRMProbe UVVisSR薄膜测厚仪大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
反射膜厚仪MProbe RT该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。
反射膜厚仪MProbe NIR采用近红外光谱（NIR）的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜（CIGS,...
显微反射膜厚仪MProbe MSPMProbe MSP显微薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库（超过500材料），新材料可以...
涂层测厚仪SURFIX®X系列测量仪器: 彩屏, PC 连接，易操作,以及适合PHYNIX探头
涂层测厚仪SURFIX®系列用于钢/铁以及有色金属的清漆、油漆和电镀以及阳氧化涂层的快速测量
涂层测厚仪SURFIX®简易系列Surfix® 简易系列的测量探头均由硬质合金制成，这意味着它具有几乎无限的使用寿命。
便携式涂层测厚仪PaintCheck不能测量涂层的厚度，也能提供有关涂层结构的有价值信息
涂层测厚仪 探头我们提供多种不同的仪器和探头，几乎能够测量金属材料的涂层厚度。
膜厚仪EDX8000B应用场景EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学...
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