同惠TH513半导体C-V特性分析仪参数测试仪 参考价：面议
同惠TH513半导体C-V特性分析仪参数测试仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。仪器采用了一体化集成设计，二...
TH512 半导体C-V特性分析仪参数测试仪 参考价：面议
TH512 半导体C-V特性分析仪参数测试仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的分析仪器。仪器采用了一体化集成设计，二极...
TH511半导体C-V特性分析仪参数测试仪 参考价：面议
TH511半导体C-V特性分析仪参数测试仪简介：TH510系列半导体C-V特性分析仪是常州同惠电子根据当前半导体功率器件发展趋势，针对半导体材料及功率器件设计的...
HIOKI日置 3506-10电容电阻测试仪测量仪 参考价：面议
HIOKI日置 3506-10电容电阻测试仪测量仪：对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试C、(tan δ), Q测试，低电阻测量 测试源频率：1kHz，...
日置C测试仪3504-60电容检测测量仪器 参考价：面议
日置C测试仪3504-60电容检测测量仪器：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 静电容量...
HIOKI C测试仪3504-50元器件电容检测仪器 参考价：面议
HIOKI C测试仪3504-50元器件电容检测仪器：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容...
HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40 参考价：面议
HIOKI日置C测试仪电容测试设备 3504-40：封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等C、D 2项目测试 能以恒定电压测量大容量的多层陶瓷电容 ...
费思FTI5000系列FTI5010-10000保险丝测试仪 参考价：面议
费思FTI5000系列FTI5010-10000保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465....
费思FTI5000系列FTI5015-1000保险丝测试仪 参考价：面议
费思FTI5000系列FTI5015-1000保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1...
费思FTI5000系列FTI5015-200保险丝测试仪 参考价：面议
费思FTI5000系列FTI5015-200保险丝测试仪是专为保险丝、熔断器等产品设计的专业测试设备，严格符合GB/T 9364系列、GB/T 31465.1-...
致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪 参考价：面议
致茂Chroma Model11090-030射频LCR表测试仪产品特色：●测试参数:Z,0z,Y, θy, R, X, G, B, Ls, Lp, Cs, C...
Tektronix泰克S530/S540 /S500参数测试系统 参考价：面议
Tektronix泰克S530/S540 /S500参数测试系统产品简介：带有 KTE 7 软件的吉时利 S530 系列参数测试系统提供高速、灵活的配置，能够随...
吉时利Keithley4200A-SCS半导体参数分析仪 参考价：面议
吉时利Keithley4200A-SCS半导体参数分析仪（参数测试仪）加快各类材料、半导体器件和先进工艺的开发，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-...
功率半导体参数测试系统 参考价：面议
LET-SP802功率半导体参数测试系统是一款测量与分析功率半导体器件静态参数的专用仪器，为所有类型的功率半导体器件提供静态参数测量解决方案。LET-SP802...
半导体动态参数测试系统 参考价：面议
半导体动态参数测试系统硬件优势:1. 采用先发布的12 bit 示波器：正确反映波形的细节，并准确计算出参数2. 采用先发布的光隔离、高CMRR探头系统，解决S...
半导体静态参数测试系统 参考价：面议
LET-5000半导体静态参数测试系统是一款测量与分析功率静态参数的专用仪器，为所有类型的功率器件提供静态参数测量解决方案。
IGCT自动测试系统 参考价：面议
IGCT自动测试系统核心是安规及导通性能测试的订制化标准测试平台，其核心是采用了各种仪器仪表（万用表、内阻测试仪、安规测试仪、电源等）和继电器板卡、配合测试机柜...
第三代功率半导体器件动态可靠性测试系统 参考价：面议
KC-3105 第三代功率半导体器件动态可靠性测试系统中可同时完成HTRB和DHTRB测试，整体架构模块化，通讯协议、通讯接口等采用统一标准，便于后期扩展和维护...
功率半导体高精度静态特性测试系统(实验室) 参考价：面议
KC3110功率半导体高精度静态特性测试系统(实验室)，基于全新三代半SiC, GaN器件和模块以及车规级模块的新兴要求而进行的一次高标准产品开发。本系统可以在...
功率半导体高精度静态特性测试系统(生产端) 参考价：面议
KC3111功率半导体高精度静态特性测试系统（生产端），基于全新三代半SiC, GaN器件和模块以及车规级模块的新兴要求而进行的一次高标准产品开发。脉冲信号源输...
功率半导体动态参数测试系统 参考价：面议
KC3120功率半导体动态参数测试系统可针对各类型 GaN、Si基及SiC基二极管、 MOSFET、IGBT 等分立器件的各项动态参数测试，如开通时间、关断时间...
IOL间歇寿命试验系统HK-IOL-16H 参考价：面议
测试各种封装的MOSFET、IGBT、三极管、Diode（小电流器件）进行连续工作寿命和间歇工作寿命试验。间歇工作寿命试验利用芯片的反复开启和关闭引起的反复高温...
IGBT/SIC模块功率循环试验系统 参考价：面议
IGBT/SIC模块功率循环试验系统华科智源-功率循环老化设备主要是针对IGBT/SIC的封装可靠性行进行实验,通过控制实验条件再现IGBT封装的主要两种失效方...
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000 参考价：面议
SIC碳化硅器件参数测试仪HUSTEC-3000功能及主要参数： 适用碳化硅二极管、IGBT模块\\MOS管等器件的时间参数测试。
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