SR20塑料测厚仪薄膜厚度测量仪可测15nm纳米
SR20塑料测厚仪薄膜厚度测量仪可测15nm纳米

产品特点

测量原理:基于光的干涉原理，通过分析从薄膜表面反射和从薄膜/基底界面反射的光的干涉图案来计算薄膜厚度。

非接触测量:不需要与样品接触，不会对样品造成损害，特别适合于测量软质材料或表面易受损的样品。

高精度:提供非常精确的测量结果，精度可以达到纳米级别。

快速测量:测量过程快速，可以即时获得结果适合生产线上的快速检测。

易于操作:具有用户友好的界面，使得操作简便，用户可以快速上手。

多层膜测量能力:可以测量多层复合薄膜的每一层的厚度。

数据分析:配备强大的数据处理和分析软件，能够对测量结果进行深入分析。

测量厚度从15nm到100um的膜厚测量系统

不论您是想要知道薄膜厚度、光学常数，还是想要知道材料的反射率和透过率，SR20都能满足您的需求。仅需花费几分钟完成安装，通过USB连接电脑，设备就可以在数秒内得到测量结果。基于其模块化设计的特点，SR20适用于各种应用:

测量厚度、折射率、反射率和透过率:

·单层膜或多层膜 ·单一膜层 ·液态膜或空气盒厚

使用不同配件条件下的测量，包括:

·平面或弯曲表面

·光斑最小可达20微米

·桌面式、XY坐标自动化膜厚测量，或在线测量

所有的这些功能都伴随着直观的软件界面以及我们即时的电话和互联网

支持(24小时/每周5工作日)。

膜层范例基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。这包括几平所有的电介质与半导体材料